0
紅外線溫度計｜Raytek®Fluke Process Instruments 授權代理銷售紅外線測溫 台灣官方-洋泰科技
Endurance 紅外線測溫器 - 創新耐用獨立型紅外線高溫計 - 工業測溫惡劣環境最佳選擇
Fluke Process Instruments ( Raytek ) 發佈漲價通知，本公司 已於 2024 年 02 月 01 日 起調整價格

Endurance - E 獨立型系列 - 已取代 Marathon - MR/MM 獨立型系列
Raytek, Ircon, Datapaq 品牌聯合整合為  Fluke Process Instruments 
精準、耐用 、安全，在惡劣的環境中依然表現優異  紅外測溫和爐溫跟踪系統為客戶提供全面的溫度測量解決方案
Ircon Modline, Modline 3, Modline 4, Modline 5, Modline 7
Endurance® E1R/E2R/E1M/E2M/E3M 系列手冊

產品詳細介紹
非接觸式紅外線測溫器 Endurance - E1R/E2R/E1M/E2M/E3M 系列

　　Endurance®   創新耐用單/雙色獨立型紅外線高溫計

Raytek® Fluke Process Instruments 推出了新款工業用紅外線測溫儀 Endurance 創新耐用的單/雙色獨立型非接觸紅外線測溫器，依據嚴苛的工業標準設計。 Endurance 創新紅外線測溫器分別為，紅外線測溫器獨立型兩色式（Two Color）系列為 E1R、E2R，及紅外線測溫器創新獨立耐用型 E1M、E2M、E3M。Endurance紅外線測溫器最高精度達 ±0.3%，最快速反應達 2 mSec，可輸出 4 至 20 mA 和 RS-485 / Ethernet、Profinet 信號，並有 Endurance Software 軟體可在個人電腦上遙控設定參數及讀取溫度資料。

Endurance - R 獨立系列（E1R、E2R）紅外線測溫器使用 2 C（Two Color）雙色式量測技術，即使被測物體面積僅量測到微小比例 5% 的面積被鏡頭偵測到，仍能精確的測量出被測物的表面溫度。因此Endurance-R （E1R、E2R）系列紅外線測溫器能應用於測量跳動或細小物體的表面溫度，也最適合在惡劣工作環境下使用，如空氣中充滿灰塵，煙霧或蒸氣。Endurance - R（ E1R、E2R）具可調式光學瞄準鏡頭，可精確瞄準被測物，加裝耐用型氣冷/水冷套環（ThermoJacket）可耐溫至315°C。

Endurance - M 獨立系列（E1M、E2M、E3M）紅外線測溫器為單色式量測技術，除耐高溫之外其還具有基於不同現場的可優化功能具雙雷射瞄準光點，可以很精確的指出被測面積的直徑大小、精度（±0.5% +1°C）、光學解析最高達 D：S  = 300：1、Endurance - M 系列紅外線測溫範圍 E1M：400°C 至 3000°C、E2M：250°C 至 2250°C、E3M：50°C 至 1800°C，特定的紅外線測溫頻譜 1 μm（E1M） / 1 . 6 μm（E2M） / 2 . 4 μm（E3M）、反應時間最快速 2 mSec。

Raytek® Fluke Process Instruments 紅外線高溫計 Endurance 系列非常適合用於高溫工業應用在鋼鐵、金屬冶煉、鑄造、熱加工處理、陶瓷、半導體、石化、高溫爐以及電廠等高溫工業為客戶提供高標準測溫服務。Raytek Endurance 紅外線測溫器其耐損性和耐熱警報探測器及報警功能還最大程度地降低維修成本。


　Endurance 創新耐用型紅外線高溫計 - 惡劣環境的最佳選擇

Endurance-R 系列：（Two Color）雙色獨立型紅外線高溫計


E1R 型（ 1 . 0 μm，快速反應 10 mSec）：

E1RL
紅外線測溫範圍：600°C（2C） / 550°C（1C） 至 1800°C，D：S = 100：1

E1RH
紅外線測溫範圍：1000°C 至 3200°C，D：S = 150：1

E2R 型（ 1 . 6 μm，快速反應 20 mSec）：

E2RL
紅外線測溫範圍：250°C 至 1200°C，D：S = 75：1


Endurance-M 系列：（One Color）單色獨立型紅外線高溫計


E1M 型（ 1 . 0 μm，快速反應 2 mSec）：

E1ML
紅外線測溫範圍：400°C 至 1740°C，D：S = 160：1

E1MH
紅外線測溫範圍：540°C 至 3000°C，D：S = 300：1

E2M 型（ 1 . 6 μm，快速反應 2 mSec）：

E2ML
紅外線測溫範圍：250°C 至 1100°C，D：S = 160：1

E2MM
紅外線測溫範圍：250°C 至 1400°C，D：S = 160：1

E2MH
紅外線測溫範圍：450°C 至 2250°C，D：S = 300：1

E3M 型（ 2 . 4 μm，快速反應 20 mSec）：

E3ML
紅外線測溫範圍：50°C 至 1000°C，D：S = 100：1

E3MH
紅外線測溫範圍：150°C 至 1800°C，D：S = 300：1
 
 


 
 


 

Spot Size Calculator << 請點擊此連結 >>


光斑尺寸計算器計算非接觸式溫度傳感器的光斑尺寸，如紅外高溫計，紅外線掃描儀和熱成像儀。

因此，它根據所選的傳感器型號以及與測量目標的安裝距離的函數提供所得測量點直徑的保守估計。

顯示的值旨在幫助您獲得最佳測量值，並且在某些情況下可能與確切值不同。



SpotSizeCalculator for Android.url 安卓版
https://play.google.com/store/apps/details?id=com.flukeprocessinstruments.spotsizecalculator

SpotSizeCalculator for iOS.url 蘋果版
https://apps.apple.com/de/app/messfleck-rechner/id1401963715

SpotSizeCalculator on Webpage.url 網頁版 
https://www.flukeprocessinstruments.com/SpotSizeCalculator/index.html

SpotSizeCalculator for Windows 10.url 微軟版 
https://www.microsoft.com/store/apps/9N8H3FQWHJLK

  

How-To: Install Fluke Process Instruments Endurance Software

Ircon Modline, Modline 3, Modline 4, Modline 5, Modline 7

洋泰科技有限公司

Changlom Technology Corporation
 TEL : 02 27064289
 FAX : 02 27553347
service@changlom.com.tw
LINE-ID ► @raytek

Raytek, Ircon, Datapaq 品牌聯合整合為  Fluke Process Instruments 
精準、耐用 、安全，在惡劣的環境中依然表現優異  紅外測溫和爐溫跟踪系統為客戶提供全面的溫度測量解決方案
 

© 1975-2023 Changlom Technology Corporation - All rights reserved. sitemap